熱釋光技術在輻射劑量檢測中的應用，FN-2000B系統深度解析

　　在核能、醫療放射、工業輻射等領域，準確測量輻射劑量是保障安全的關鍵。飛諾飛科技(上海)有限公司推出的FN-2000B熱釋光輻射劑量檢測系統，利用熱釋光現象精確測量輻射劑量，為輻射安全提供了強有力的技術支持。
 

　　熱釋光技術原理
 

　　熱釋光(Thermoluminescence, TL)是一種物理現象，某些物質在吸收輻射能后，電子被激發到高能態。當這些電子在熱激發下返回到基態時，會釋放出光子。通過測量這些光子的數量，可以準確測定晶體所吸收的輻射劑量。
 

　　FN-2000B系統概述
 

　　FN-2000B系統是一款高性能的熱釋光輻射劑量檢測設備，能夠對X射線、γ射線、β射線以及中子等輻照后的熱釋光探測器進行精確測量，并提供讀出值、劑量值等關鍵數據。
 

　　系統性能特點
 

　　用戶友好的操作界面：7寸觸摸屏，全中文彩色顯示，簡化用戶操作流程。

 

　　高壓控制模式：高壓部分提供自動、鎖定、固定三種模式，以適應不同的測試需求。

 

　　靈活的加熱盤設計：加熱盤可更換，支持不同形狀和規格的熱釋光探測器。

 

　　強大的數據庫功能：支持按單位名稱、個人姓名等多種查詢功能，便于數據管理和追蹤。

 

　　自動烘干功能：上電自動烘干，適用于潮濕環境或低頻使用場景。

 

　　擴展測量范圍：可放置衰減濾光片，以擴大劑量測量范圍。

 

　　數據管理與輸出：帶PC軟件、打印機接口、條碼掃描儀接口，單機存儲1000條測量數據。支持掃碼錄入、表格導出、個人數據庫建檔。

 

　　技術規格
 

　　劑量測量范圍
 

　　LiF:Mg,Ti：10-5Gy ～ 1Gy 

　　LiF:Mg,Cu,P：10-7Gy ～ 10Gy 

　　LiF:Mg,Ti-M：0～100Gy
 

　　加熱系統
 

　　加熱溫度范圍：室溫～400℃ 

　　加熱溫度重復性：≤1% 

　　加熱溫度偏差：≤±2℃ 

　　加熱時間：0～500s 

　　加熱時間重復性：≤0.1% 

　　加熱速率：1～40℃·s-1
 

　　測量項目
 

　　可測量X、γ、β、中子等輻射類型。
 

　　系統穩定性與靈敏度
 

　　系統穩定性：≤0.2% 

　　靈敏度重復性的變化系數：≤0.1%±0.05%/℃
 

　　光源與背景值
 

　　抽屜漏光量：≤內部光源量的0.1% 

　　本底值：≤300
 

　　使用條件
 

　　高壓：0～1500V 

　　電源：AC 220 V±10%，50Hz 

　　工作環境：室內 

　　工作溫度：10～40℃
 

　　結語
 

　　FN-2000B熱釋光輻射劑量檢測系統以其高精度、高穩定性和用戶友好的操作界面，在輻射劑量檢測領域中扮演著重要角色。飛諾飛科技(上海)有限公司的這一創新產品，不僅提高了輻射劑量測量的準確性，也為核安全和輻射防護提供了強有力的技術支持。